A skanningselektronmikroskop(SEM) er en type elektronmikroskop som brukes til å skanne mikrobielle overflater, som bruker en bevegelig elektronstråle med lav energi for å fokusere og skanne prøven.
Utviklingen av elektronmikroskopi ble tilskrevet ineffektiviteten til optiske mikroskopibølgelengder. Sammenlignet med lysmikroskoper har elektronmikroskoper korte vertikale bølgelengder og oppnår derfor bedre oppløsning.
Prinsipper for skanningselektronmikroskopi
I motsetning til transmisjonselektronmikroskopi, som bruker overførte elektroner, bruker skanningselektronmikroskopi utsendte elektroner.
Skanneelektronmikroskopi fungerer ved å bruke kinetisk energi for å produsere signaler om elektroninteraksjoner. Disse elektronene er sekundære elektroner, tilbakespredte elektroner og diffrakterte tilbakespredte elektroner, som brukes til å observere krystallinske elementer og fotoner. Sekundære elektroner og tilbakespredte elektroner brukes til å produsere bildet. De sekundære elektronene som sendes ut fra prøven spiller en stor rolle i å oppdage morfologien og topografien til prøven, mens de tilbakespredte elektronene viser kontrast i prøvens elementære sammensetning.
